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Über die Entwicklung neuer Technologien zur optischen Erfassung von Pflanzenmerkmalen referiert Klaus Erdle von der Technischen Universität München am Mittwoch, 12. Januar, um 15.15 Uhr im Konferenzraum der Landwirtschaftlichen Untersuchungs- und Forschungsanstalt (LUFA) Speyer, Obere Langgasse 40. Während zur Charakterisierung der genetischen Ausstattung von Pflanzen im Labor große Fortschritte erzielt wurden, kann die Weiterentwicklung von Methoden zum Erfassen typischer Merkmale im äußeren Erscheinungsbild von Pflanzen, also hinsichtlich des jeweiligen Phänotyps, nur schwer Schritt halten. Das gilt besonders für Bestandsaufnahmen unter Feldbedingungen. Der Referent stellt optische Pflanzensensoren vor, die die Technische Universität München in Zusammenarbeit mit Pflanzenzucht-Unternehmen und Entwicklern derzeit entwirft und testet. Diese neuartigen Sensoren erlauben eine leistungsfähige und zerstörungsfreie Erfassung des Phänotyps von Pflanzen.

 

 

Nachricht vom Mittwoch, 05. Januar 2011
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